台灣福雷電子股份有限公司
基本資料
| 統一編號 | 22100242 |
| 公司名稱 | 台灣福雷電子股份有限公司 |
| 成立日期 | 1987/12/14 |
| 公司狀況 | 核准設立 |
| 資本額 | 12,000,000,000元 |
| 實收資本額 | 11,314,525,020元 |
| 股票代號 | |
| 電話 | 07-3636641 |
| 負責人 | 張虔生 |
| 地址 | 高雄市楠梓區西五街10號 |
| 網址 | |
| 營業項目 |
半導體封裝及測試(261300) |
董監事
| 姓名 | 職稱 | 持有股份 | 代表法人 |
|---|---|---|---|
| 張虔生 | 董事長 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 張能傑 | 董事 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 羅瑞榮 | 董事 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 陳天賜 | 董事 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 陳昌益 | 董事 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 潘士華 | 董事 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 李俊哲 | 董事 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 張能超 | 董事 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 李柏練 | 董事 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 鄭天正 | 董事 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 張淑琴 | 董事 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 唐瑞文 | 監察人 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 郭宏銘 | 監察人 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
| 曾元一 | 監察人 | 100.00% | 日月光半導體製造股份有限公司 |
標案拒往
| 機關名稱 | 公告日期 | 生效日期 | 截止日期 | 期間 |
|---|
同地址公司
| 公司名稱 |
|---|
勞權違規
| 日期 | 違反法規法條 | 罰鍰金額 |
|---|---|---|
| 2023/03/02 | 勞動基準法第32條 | 50,000 |
| 2021/09/01 | 勞基法第32條第2項 | 50,000 |
| 2020/08/04 | 勞動基準法第32條第2項 | 20,000 |
動產抵押
| 案件類別 | 債務人名稱 | 債務人統編 | 契約啟始日期 | 契約終止日期 | 抵押權人名稱 | 抵押權人統編 | 擔保債權金額 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 動產抵押 | 台灣福雷電子股份有限公司 | 22100242 | 2004/10/12 | 2019/10/12 | 交通銀行股份有限公司 | 03720209 | (新台幣) |
財務報表
選舉收入(政治獻金)
| 收入名稱 | 收入金額 |
|---|---|
| 總收入金額 | 0 |
選舉支出(政治獻金)
| 支出名稱 | 支出金額 |
|---|---|
| 總支出金額 | 0 |
員工人數
存款不足之退票事宜
| 時間 | 金額 |
|---|
公司歷程
-
2013/08/19資本額變更為6,000,000,000
-
2014/08/29資本額變更為9,000,000,000
-
2015/08/25資本額變更為12,000,000,000
-
2019/06/11公司地址變更為高雄市楠梓區西五街十號
-
2021/04/07公司地址變更為高雄市楠梓區西五街10號
裁判書查詢
| 內容 | 年份 |
|---|---|
| 給付貨款 | 2009 |
| 支付命令 | 2008 |
進出口資料
| 年 | 月 | 總進口實績(美金) | 總出口實績(美金) |
|---|---|---|---|
| 2024 | 01-04 | >1000萬 | >1000萬 |
| 2023 | 01-12 | >1000萬 | >1000萬 |
| 2022 | 01-12 | >1000萬 | >1000萬 |
| 2021 | 01-12 | >1000萬 | >1000萬 |
| 2020 | 01-12 | >1000萬 | >1000萬 |
政府標案
| 標案名稱 | 機關名稱 | 決標日期 | 決標金額 | 是否得標 |
|---|
商標
| 總數量 | 0 |
| 商標名稱 |
專利
| 總數量 | 30 |
| 專利名稱 |
取放工具、具有其之測試系統及測試方法 測試電子組件之裝置 取放工具、具有其之測試系統及測試方法 測試電子組件之裝置 測試裝置、測試系統及測試方法 測試設備 測試裝置、測試系統及測試方法 量測系統及量測方法 用於測試具有天線元件之半導體封裝結構的測試治具、測試系統及其測試方法 用於光學量測之系統及方法 |
相關新聞
| 來源 | 日期 | 內容 |
|---|
如需更多資訊，請聯絡我們: owenschen@syncace.co
工廠
| 地區 | 數量 |
|---|---|
| 高雄市_生產中 | 4 |
| 總數量 | 4 |
重大訊息
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